SOP 24pin-1.52pin-(21×11.7mm) 老化测试座

芯片封装类型：SOP

芯片引脚：24pin

芯片引脚间距：1.52mm

芯片尺寸：21×11.7mm

适用于SOP24pin封装

芯片测试、烧录、老化

芯片测试温度：130°

持续时长：120小时

芯片测试电流：0.55A

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试座结构： 双扣式（手自 一体）

芯片测试座材料：合金