QFN 20pin-0.5mm-3.5×3.5mm 测试座
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:3.5*3.5mm
芯片厚度:0.75mm
测试环境:老化、测试、烧录
芯片测试频率:2Mhz
芯片测试电流:20mA
芯片测试温度:+85°
芯片引脚有4pin 需接地
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:3.5*3.5mm
芯片厚度:0.75mm
测试环境:老化、测试、烧录
芯片测试频率:2Mhz
芯片测试电流:20mA
芯片测试温度:+85°
芯片引脚有4pin 需接地
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金